简述原子吸收光谱仪结构 光谱仪使用方法

　　【*** 使用手册】原子吸收光谱仪是一款在工业生产中应用广泛的分析检测仪器，由于原子吸收光谱的性质，一般可以测定多种元素，并且能够对规定范围的微量物质进行检测。同时，原子吸收光谱仪的氢化物发生器可以对汞、砷、铅、硒、锡、碲、锑、锗等挥发性元素进行测定，功能**强大。目前，市面上常见的原子吸收光谱仪一般是由光源、原子化系统、分光系统和检测系统组成。以下根据网上资料，对常见原子吸收光谱仪各系统部件进行简述：　　1.光源：作为光源要求发射的待测元素的锐线光谱有足够的强度、背景小、稳定性，因此目前实际操作中较常采用空心阴极灯与无极放电灯这两种光源。　　2.原子化器：一般原子化器可分为预混合型火焰原子化器、石墨炉原子化器、石英炉原子化器，阴极溅射原子化器。其中，火焰原子化器：由喷雾器、预混合室、燃烧器三部分组成，具有操作简便、重现性好等优点。而石墨炉原子化器，则是一类将试样放置在石墨管壁、石墨平台、碳棒盛样小孔或石墨坩埚内用电加热至高温实现原子化的系统。目前较常用于原子化器的是管式石墨炉，在进行原子化过程中，一般分为干燥、灰化、原子化、高温净化，具有原子化效率高、灵敏度高以及试样用量少等优点。而另一种石英炉原子化系统是将气态分析物引入石英炉内在较低温度下实现原子化的一种方法，又称低温原子化法。它主要是与蒸气发生法配合使用。此外，还有一种阴极溅射原子化器，则是通过利用辉光放电产生的正离子轰击阴极表面，从固体表面直接将被测定元素转化为原子蒸气，实现原子化的目的。　　3.分光系统：常见分光系统一般是由凹面反射镜、狭缝或色散元件组成，其中色散元件为棱镜或衍射光栅，而单色器的性能则是指色散率、分辨率和集光本领等性能。　　4.检测系统：检测稀土中一般需要有检测器、放大器、对数转换器和电脑等部件组成，但根据实际操作要求，有些原子吸收光谱仪的检测系统会有所差异。　　由于资料有限，因此上述内容并不**，具体实际结构，应根据相应设备使用说明书进行分析。 X射线荧光光谱仪的试验方法

　　X射线荧光光谱仪具有重现性好，测量速度快，灵敏度高的特点。能分析B(5)～U(92)之间所有元素。样品可以是固体、粉末、熔融片，液体等，分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。无标半定量方法可以对各种形状样品定性分析，并能给出半定量结果，结果准确度对某些样品可以接近定量水平，分析时间短。薄膜分析软件FP-MULT1能作镀层分析，薄膜分析。测量样品的**尺寸要求为直径51mm，高40mm。

　　X射线荧光光谱仪的基本试验方法：

　　X荧光光谱仪（XRF）由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后，仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。

　　用X射线照射试样时，试样可以被激发出各种波长的荧光X射线，需要把混合的X射线按波长（或能量）分开，分别测量不同波长（或能量）的X射线的强度，以进行定性和定量分析，为此使用的仪器叫X射线荧光光谱仪。

　　X射线荧光光谱仪分为波长色散、能量色散、非色散X荧光、全反射X荧光。

　　波长色散X射线荧光光谱采用晶体或人工拟晶体根据Bragg定律将不同能量的谱线分开，然后进行测量。波长色散X射线荧光光谱一般采用X射线管作激发源，可分为顺序式(或称单道式或扫描式)、同时式(或称多道式)谱仪、和顺序式与同时式相结合的谱仪三种类型。顺序式通过扫描方法逐个测量元素，因此测量速度通常比同时式慢，适用于科研及多用途的工作。同时式则适用于相对固定组成，对测量速度要求高和批量试样分析, 顺序式与同时式相结合的谱仪结合了两者的优点。