X射线荧光光谱仪工作方法与使用使用篇 X射线荧光光谱仪使用方法

　　【***** 使用手册】上一篇文章里我们说过了X射线荧光光谱仪的试验方法，接下来我们就来谈一谈X射线荧光光谱仪的操作：　　一、仪器自检　　为了随时得到准确的分析结果，许多仪器都需要进行人工校正，而能量色散型X射线荧光分析仪 EDX-LE在开启后会对能量校正和定量值校正的操作进行帮助，当需要进行校正时可自动进行校正，**的缩短了仪器校正时间时间，方便了用户操作使用。　　二、针对RoHS指令进行检测　　能量色散型X射线荧光分析仪 EDX-LE将针对RoHS指令有害5元素+氯元素所需的筛选操作步骤尽可能的自动化，以便进行RoHS法规5元素+氯元素(选配)的高速筛选分析。因此，EDX-LE从开始分析到得到结果只需要(根据样品)约1分钟，筛选分析速度得到了加强，但检测准确度仍然保持在较高的水平。　　三、操作自动化　　能量色散型X射线荧光分析仪 EDX-LE操作简洁方便，一个指令即可开始全自动测定。测定条件的选择由装置自动判断，减少了传统仪器繁琐的操作步骤，让初学者也能够进行简便、高精度地测定，**提升了用户体验，并将智能化理念巧妙的融入到了仪器设计之中。　　除了这三点优势之外，X射线荧光光谱仪还具有重现性好，测量速度快，灵敏度高的特点。能分析F(9)~U(92)之间所有元素。样品可以是固体、粉末、熔融片，液体等，分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品，广泛的应用于我们的生产生活当中。 X射线荧光光谱仪的试验方法

　　X射线荧光光谱仪具有重现性好，测量速度快，灵敏度高的特点。能分析B(5)～U(92)之间所有元素。样品可以是固体、粉末、熔融片，液体等，分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。无标半定量方法可以对各种形状样品定性分析，并能给出半定量结果，结果准确度对某些样品可以接近定量水平，分析时间短。薄膜分析软件FP-MULT1能作镀层分析，薄膜分析。测量样品的**尺寸要求为直径51mm，高40mm。

　　X射线荧光光谱仪的基本试验方法：

　　X荧光光谱仪（XRF）由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后，仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。

　　用X射线照射试样时，试样可以被激发出各种波长的荧光X射线，需要把混合的X射线按波长（或能量）分开，分别测量不同波长（或能量）的X射线的强度，以进行定性和定量分析，为此使用的仪器叫X射线荧光光谱仪。

　　X射线荧光光谱仪分为波长色散、能量色散、非色散X荧光、全反射X荧光。

　　波长色散X射线荧光光谱采用晶体或人工拟晶体根据Bragg定律将不同能量的谱线分开，然后进行测量。波长色散X射线荧光光谱一般采用X射线管作激发源，可分为顺序式(或称单道式或扫描式)、同时式(或称多道式)谱仪、和顺序式与同时式相结合的谱仪三种类型。顺序式通过扫描方法逐个测量元素，因此测量速度通常比同时式慢，适用于科研及多用途的工作。同时式则适用于相对固定组成，对测量速度要求高和批量试样分析, 顺序式与同时式相结合的谱仪结合了两者的优点。