波长色散型X荧光分析仪如何选择定量分析条件 分析仪使用方法

　　【*** 使用手册】X荧光分析仪定量分析时通过将测得的特征X射线荧光光谱强度转换为浓度，在转换过程中会受到仪器的校正因子、测得的待测元素X射线荧光强度、样品的物理形态等因素的影响。制定定量分析方法时需要考虑很多因素。　　X光管的高压和电流选择　　对于不同的X射线管，所选用的电压和电流是不同的。如端窗靶X射线管，高压电源供给X射线管的电压和电流为60kV和125mA。　　设置的X射线管高压和电流的乘积不能超过谱仪给出的总功率。且谱仪推荐的电流和电压是根据元素而定的，而不是根据实际试样而定的。因此在选择高压时，设定值必须大于待测元素的激发电位。　　角度的校正、背景的扣除和计数时间的确定　　角度的选择取决于待测元素所选的谱线和晶体。尽可能使所选谱线避免基体中其他元素的谱线的干扰。　　背景产生的原因有：　　样品引起的，原级X射线谱在样品中产生散射线，其强度随样品成分变化而变化或是被测谱线附件存在谱线干扰；　　由于样品产生的射线和仪器相互作用引起的，如晶体荧光和分光晶体引起的高次线等。　　背景对微量元素的检测限和准确度均有较大影响。背景校正方法有理论背景校正法、实测背景扣除法等。　　脉冲高度分析器　　晶体在衍射时可能产生晶体荧光、某些元素的高次线或高次线的逃逸峰、待测元素本身产生的逃逸峰，这些信号所产生的电脉冲如不处理均影响分析结果的准确度。对此，我们可以利用PHD**晶体荧光的影响以及高次线的干扰，同时还可以通过设置两个PHD上、下阈**高次线逃逸峰的干扰。 手持式合金分析仪的结构及适用介绍

手持式合金分析仪是利用物质的声、光、磁和电等特性，在不损害或不影响被检测对象使用性能的前提下；

检测被检对象中是否存在缺陷或不均匀性，给出缺陷大小，位置，性质和数量等信息。

它适用于金属材料、非金属材料、复合材料及其制品以及一些电子元器件方面测试。

手持式合金分析仪在质量控制、材料分类、合金鉴别、**防范、事故调查等现场应用领域中；

合号鉴别、金属成分快速分析，对实验室分析来说是一项极其严峻的挑战。

现在，这一切发生了根本性的变化，是技术的世界——正在引发一场元素分析领域的革命：

快速**的分析结果，昂贵分析成本的大幅降低，重大决策的快速制定，均可在扣动尼通XRF分析仪扳机的刹那间轻松实现。

手持式合金分析仪精度高，接近实验室级的分析水平；

可直观显示合号和元素百分比含量（某些元素可显示到小数点后三位）及将手持式合金分析仪的性能提高到了真正意义上的实验室级别。

手持式合金分析仪技术是将高性能大面积SDD探测器与几何优化设计思想有机地结合在了一起，与传统技术的仪器相比；

分析速度提高超过10倍，分析精度提高超过3倍，具有**的灵敏度与检测精度；

在不充氦气或非真空条件下具有**的轻元素(Mg，Al，Si，P，S)分析能力。

手持式合金分析仪速度快，操作简单，“开机启动—瞄准测试—察看结果”，整个分析过程仅需数秒便可完成；

合号鉴别只需1~2秒钟，操作简单，即使非技术人员也可轻松掌握。

手持式合金分析仪采用坚韧的，塑料密封外壳，重量轻，坚固耐用；

密封式一体化设计，防尘、防水、防腐蚀，可在**地方**使用；

内置一体化专用操作系统，无须外接PDA，运算速度快，具有病毒免疫功能，与破坏性检测方法不同；

样品在整个测试过程中无**损坏，高性能X射线探测器选项，可为不同用户的合金分析应用；

提供更加专业的、**针对性的解决方案，先进的软件；

先进的专有数据管理软件可以让您轻松设置用户登录口令，生成定制报告，实现对仪器的远程操控；

用户可编辑合号库、添加合号；自动校准、诊断仪器故障；可通过Internet实现软件升级。

手持式合金分析仪灵活的通讯功能，蓝牙和USB多种仪器连接方式，通讯方式非常灵活。数据上传下载，编辑输出报告方便。