CEM华盛昌DT-156涂层测厚仪操作方法书及技术交流

CEM华盛昌DT-156涂层测厚仪使用说明书

1、仪器简要说明

1、探头

2、开关机按键

3、零校准键

4、向下或向右翻滚或递增按键

5、蓝色按键，在菜单模式下，用于退出、否、后退功能．或者在正常工作方式下，用于背光开关键

6、主显示区

7、测量单位显示

8、NFe：指示测量所得读数为非铁磁性金属涂层读数

Fe：指示测量所得读数为铁磁性金属涂层读数

9、指示探头工作试验方法：AUTO方式下，根据测量基体自动选择探头工作

模式．F方式下只工作在磁感应试验方法．N方式下只工作在涡流试验方法．

10、指示仪表和计算机通信连接正常

11、USB连接端口

12、低电指示

13、仪表工作模式指示：直接模式

和组模式

14、统计值显示：平均值Zzui大值Z

zui小可旬标准方差

15、测量数据统计数

16、红色键在菜单模式下用于确定、

是、菜单进入等菜单操作功能．

17、向上或向左墅滚或递减按键

2准备开始

2.1电源

按山按键开机．如果没有州可动作和Lco显示r请检查是否装好电池

或者可能电池已经耗尽，建议更换电池．如果显示．标明电池快要耗

尽，此时仪表会在几秒内自动关机，请更换电池后重新开始。

2.2替换电池

放置仪表于合适位置日背面朝上．您会看到电池盒固定螺tT，用合适梅

花螺丝刀扭出螺钉便可去掉电池盒盖，拔掉电池并重新安装新电池，之

后装好电池盒盖扭好螺钉，电池更换完成。

2.3菜单和基本设益

（注意：此章节，在以后所有章节都会提到，建议随时查阅）开机后，仪表

处于测量模式，按红色按键可以进入菜单模式，下面列举了所有菜单项

目，了解各菜单项功能将有助于您顺利完成各项工作：

2.3.1菜单>>探头工作试验方法

>>统计值浏览>>根据基体自动选择

>>平均值>>磁感应（适用铁磁性基体）

>>zui小值>>涡流（适用非磁性金属基体）

>>zui大值>>单位设置

>>统计数>>微米

>>标准方差>>英制单位（**大陆地区一般不用此单位）

>>选项>>米

>>测量方法>>背光

>>单次测量>>开

>>连续测量>>关

>>工作模式>>测量模式下统计显示选项

>>直接模式>>平均值

>>>组1工作模式>>>zui大值

>>>组2工作模式>>>zui小值

>>>组3工作模式>>>标准方差

>>>组4工作模式

>>自动关机设置

>>>自动关机功能开启

>>>禁用自动关机

>>界限报警设置

>>界限设置

>>高限值设置

>>低限值设置

>>删除恢复界限值设置到默认

>>删除

>>删除zui近测量数据

>>删除当前工作组所有测量数据

>>删除当前工作组所有测量数据同时删除所有校准数据

>>测量值浏览

>>校准设置

>>使能一点和二点校准并进行LC。指示

>>禁用一点和二点校准并耽肖LC时旨云zui近完成的校准将刘舰懂有效

>>非铁基体上零校准恢复出厂默认值

>>铁基体上零校准恢复出厂默认值

2.3.2基本设置

请参考以上菜单安排，按照LCO指示，按红色按键进行确认、是、菜单进入、选择等功能操作。按蓝色键进行退出、否、后退等功能操作。按向上或向下键翻滚选择项。

2.3.2.1测量方式

连续测量法：此法适合探头无需抬起而连续测量并观察读数的场合．此种情况下，蜂鸣只在探头接触到待测物件时鸣响一声，之后将不再鸣响．布郭娜l量工作方式下，读数被自动洲予流计计算直到存储空可茜．

单次测量去：探头垂直迅速的置于待测物件之上每测量一点同时伴随一声蜂鸣，读数被显示于LC0．必须提起探头离州到可金属物件scm以上，约1.5秒后方可进行下一次测量．每一次测量的数据和连续方式一样将被保存和统计．

2.3.2.2探头选择

我们一体化探头可以工作在三种模式下：

AUTO：探头根据待测物件性质（铁磁性物质或非铁磁性金属）自动转入

相应工作模式。如果待测物件是铁镍等磁性金属物质，探头将转入磁感

应试验方法工作模式．如果待测物件是非磁性的金属物质，探头将转入涡

流试验方法工作模式．

Fe：探头将是磁感应试验方法工作模式。

NO一Fe：探头将是涡流试验方法工作模式。

2.3.2.3单位设置

您能方便的在公制（微米、毫米）和英制（mils）单位之间切换．请仔细阅读菜单安排，按照屏幕提示操作．特别需要提醒的是，在”微米”单位下当读数数值超过850微米时，单位将自动转为”毫米”，这是由精度指标决定的，请阅读仪表指标章节．

2.3.2.4总复位

总复位将擦除存储器保存的所有数据，包括所有工作模式的读数和设置

（恢复出厂默认），还有它们的统计值、校准值和上下限报警值。但是此操作不会影响出厂基本校准值，用户可放心适用此功能。要进行总复位操作，操作如下：

a关机

同时按z〔RO＋山键．

LCD将显示”suretoreset”此时按红色键确定进行总复位，否则退出

按蓝色键。仪表自动重新开机。

2.3.2.5背光

请看菜单安排章节，您可以通过菜单开关背光．此外，在正常测量模式

下，您可以按蓝色按键一次以开关背光．

2.3.2.6LCD显示统计设置

您可以通过菜单设置在工作模式下LcO显示的统计选项（平均值、zui大

值、zui小值和标准方差），设置完成返回后，被设置的统计项目将显示

statisticview”菜单项，您可以遍览当下工作组所有统计值．

2.3.2.7读数浏览

通过”Measurementview”菜单项，您可以浏览当前工作组所有测量

读数。

2.3.2.8自动关机

请仔细阅读菜单安排章节，您可以通过菜单关闭和开启自动关机功能．

3测量、存储和数据处理

仪表提供两种工作模式二直接模式和组工作模式，其中组工作模式包括

组1一组4共4组。

直接测量模式（DIR）用于快速随意测量．在此模式下，测量数据会临时

保存在内存中，可以通过菜单浏览所有已存数据和统计值，但一旦关机、

系统掉电或者从直接模式切换到组工作模式，这些数据将**自动丢

失．此模式下读数、统计值和统计数被同时显示在LcO上．此模式下，

zui多将统计80个数据，一旦超出，读数将替换zui旧读数并保存更

新统计值．此模式下，可以单独进行一点和二点校准单独设置高氏

界限报警。

组测量模式（GROI一4）二每一组工作模式下，系统可保存zui多80个数据、

5个统计值．一点二点校准和高氏界限报警可以单独设置和保存．

关彻湘掉电，所有保存值不会丢失，并且组与组之间相互独立不受影

响。需要删除保存的值，可以通过菜单操作进行。当测量数据超出80

个，数据测量可以继续进行，但是所得数据将不被保存和统计计算，如

有需要，您可以通过菜单删除组数据，请仔细参阅菜单安排章节。

请通过菜单选择当前工作组模式：DIR或GROI一4.

按山键同时探头请远离倒可金属scm以上，开机后，仪表默认工作在

DIR模式下．LCO将佰封寺显示zui近的测量读数。

4校准和测量

4.1校准概述

4.1.1校准方法

我们拥有四种校准方法，叙述如下

基本校准：适用于测量光滑物件表面涂层，或者测量物件的材料、面积

和曲葬和我们随机附带基体接近．

零点校准二建议开始任间一项测量任务前都进行零点校准，测量中途出

现可疑误差，也可随时作归零操作。

一点校准二预先估计待测量涂层厚度，使校准点尽量靠近待测厚度，可

以有效实现高精度测量。此校准方法可以轻松地使测量误差控制在

士（1％…3%)+1um/1.sum（传感器自身系统误差）

二点校准二和一点校准相可以尽量使待测涂层厚度范围与两点校准点

接近，以更州蟹正待测范围内的误差。该校准用于粗糙表面涂层测量

和高精度的光滑涂层表面测量。

4.1.2校准值保存

在伯日可模式下，您所完成的校准数据都自动保存，所有的测量创冬以zui

新的校准为准修正误差。同时，如果发现校准值明显有误可以通过菜

单删除组数据方式”Groupdata”恢复到出厂默认．具体请参阅有关

章节。

提示：校准读数在以下情况，您必须重新校准，否则可能测量有误．

--明显不正确的读数

--校准时仪表关机

4.1.3校准实例

校准是影响测量精度的关键因素．测量必须校准，校准样本越接

近被测样本，校准和测量就越准确。例如：如果被测样本是一个直径为

6mm的低碳钢柱那么无涂层校准样本的直径和材料也应该尽量相同．

标准样本必须在下列几点上与被测样本相符：

表面曲率半径

基体材料

基体厚度

被测面积

标准样本上，校准点位置尽量与产品的测量点一致，尤其测量于小样本

或边角位置，此时用精密支架定位。

4.1.4高精度测量校准

为得到高精度测量，校准时，建议在每一点上做多次反复校准，这样仪器

会自动用其平均校准值作为zui终校准低详见4.2这种方法在非平滑，

例如喷丸表面，非常实用。

4.1.5清洁测点

校准前，测量和探头顶部的油渍，金属屑物等必须**干净，少量的杂质

也会影响测量，改变读数．

4.2校准特别提示

对于大多数应用场合，基本校准（出厂默认校准），我们不建议做任间调整．

为了避免误操作，本说明书省去了此章节，若用户使用中，通过零点校准，

一点校准或二点校准，仍然不能解决问题，请致电售后服务，我们将为您

提供。

通过以下方法，您可以进入一点和二点校准模式，根据屏幕提示，您可以

正确完成校准：

首先，通过菜单选择校准模式（Menu一＞Calibration一＞〔nable),Lc剧各

会显示”CaIn(0rl一2)Zeron(ory):"n”表示没有川可点校准（前者）

或没有零校准（后者）,"y”表示已进行过零校准（当前测量是以此零点为

准）。”Ca!1一2”表示有1到2个校准点（1表示一点校准，2表示两点校准）.

提示：零点校准可以不用进入此校准模式，在测量模式，探头置于待测无

涂层基体表面，得到测量值后提起，按住Z〔RO按键，听到嘀一声响后松

开便成功进行一次归零操作，如此反复操作可川导到一个零校准平均值，

可有效防止零点校准偶然误差．

虽然在校准模式同样可以正确测量，但为避免误校准操作，完成校准后，

我们建议通过MUN〔菜单相关设置退出校准模式．进入测量模式后，所

有数据测量都将以的零校准、一点或二点校准为准，对数据进行修

正，显示和保存修正后的数值．

校准前的准备工作：

开机远离州可金属至少5厘米以上，远离强电磁场。

待测基体和必要的校准箔片（可用随机附带的5种规格薄片）.

设置工作模式：通过菜单系统设置连续或单次测量模式。

4.2.1零点校准（无剩到可校准箔）

把探头快速垂直地放在无涂层基体上．

LC显示＜x.xum>，在连续方式和单一方式下测量方式稍有不同，在本

说明书之前已有介绍．正确得到数据后，迅速抬起探头离开基体至少

5厘米以上。

然后，按住2ERO键约1.5秒，LC显示0.0um，校准完成．

可重复以上步骤几次，校准系统会自动计算和使用其平均值．

注意：

有时，在进行零校准之前，有必要通过菜单删除旧的零校准点（具体菜单

项，可参看前面章节）。因为，我们所用的零校准实际上是zui多5次零校

准的平均值．按照以上步骤每完成一次，就保存一个零校准值，当超过

5次后，zui旧的值将被的替换，如此依次，系统自动将用zui近5次校

准值计算平均得到实际零校准值．试想，如果这些操作中，有一次大的

误差操作，肯定对zui后平均值影响很大，如果做一次删除操作，系统将所

有参数归O，当然就不存在这个问题了。另外，重新开关机也可得到和删

除同样的效果。

4.2.2一点校准

此方法用于较高精度测量．

零点校准请参见4.2.1.

将校准箔片放在无涂层基体上，得到稳定数据后提起探头。按Up或者

OOWN调节显示值至所测箔片厚度。

重复几次以上步骤，校准系统会计算平均值作为zui终校准值．

使用校准值试测量。

必要时需要删除校准例如输入一个错误的圈直时进入M〔NU一＞delete

一＞deletegroupdata．注意：这将会删除所有测量存储数据、上下限

报警数据，一点和两点校准数据，但此操作不影响零点校准数据．删除

所有数据后，出厂基本校准可以保证**误差范围内的测量，用户不必

担心误操作．若高精度测量，请重新做一点或二点校准．

特别提示二

请仔细观察屏幕，"CalxZerox”之前黑色方块，每次按Up或者OOWN

键一次，它将重新开始计时，在305时间内，你可以按一下蓝色的按键取

消当前点校准．在此时间内，对于当前点校准，仪器可以容纳5次校准值

并自动计算平均值作为zui终校准值，当满5次后的校准值会替换zui

旧的校准值，此和零点校准非常相似，可参考零点校准．305后，对此点

的校准将正式生效左边黑色方块自动消失，或者提前按ZERO一次，可

使当前点校准强制生效．即使长期进行一系列的连续测试工作，校准也

是有必要经常考虑的，它直接影响测量准确性。

4.2.3两点校准

建议在单次测量方式下进行，请通过菜单转换工作方式．两点校准需要

使用2个不同的箔片．请粗略估测您实际工作需要测量的厚度范围，此

范围不宜过大，范围越小，能获得的测量精度越高．然后选择两点校准

所需要的2个不同厚度标准箔片，此两标准箔片厚度尽量靠近并包含实

际工作需要测量的厚度测量范围。此方法尤其适用于非平滑，例如喷丸

表面或用于高地测量。校准步骤如下：

零点校准．参见4.2.1

一点校准．参见4.2.2

重复步骤2。

使用校准值试测量。

说明二二点校准实际上就是两次一点校准。如果系统只存入了一点的校

准值，则修正方式就是一点修正方式，若再次存入一点校准，则修正方式

自动成为二点修正方式．zui后实际显示和存储的读值则是基本校准下

所得数据加零点修正、一点或者二点修正值，注意，一点和二点校准不

会同时存在。

4.2.4喷丸表面校准方法

喷丸表面的物理性质会导致读数偏差，平均覆层厚度可用下面的方法确

定（统计程序在这里非常有用）二

方法一：

按照4.2.2或者4.2.3的方法校准仪表．校准基体选择光滑且曲率半径

和基体材料与待测试件相近．

在无覆层的经过同样喷丸处理的表面测量10次左右，得到一个平均值，

记作XO。

在有涂层的喷丸的被测样本上测10次得到平均值Xm.

Xm与Xo的差（Xm一Xo）土S就是平均覆层厚度，其中S是Xm与XO两者

标准方差中的较大者．

方法二：

无涂层喷丸基体上进行多次零校准。然后在无涂层的基体上，用一片

校准箔做一点校准。该箔片可由数片SOum的箔片组成箔厚尽量与

预计涂层厚度接近。

测量待喷丸涂层厚度此厚度应为5一10个单次测量结果的平均值．统

计程序在这里非常有用．

方法三二

此种方法测量的结果也**可靠．如4.2.3所述，只需使用两个箔片，进

行2点校准。为了zui大程度地接近各自被测表面的性质，箔片的厚度可

以通过使用多片每片厚度为50um的校准箔片叠加得到。厚度测量结

果应为5一10个单次测量结果的平均值。

注意：对于大于30Oum的涂层，粗糙程度的影响并不**重要且没有必

要使用上述校准方法．

4.3测量中的计算方法

仔细校准以后，所有测量偏差将会在洲门承诺的误差范围之内。发电机

等大功率电器设备附近的强磁场会影响读数，建议尽量远离。当使用统

计程序获取平均值的时候建议将探头放置于具有典型意义的测点上连

续测量多次。可通过菜单系统删除**错误或者不符读数。zui终的读

数由统计程序和翻门承诺的测量误差范围共同决定，如下所述．

涂层厚度D=X±s±u

例如

读数

读数：150um,156um,153um

平均值：X=153um

标准偏差S＝士3Um

测量偏差u＝土（3%ofreading+lum)

D=153士3±(4.59um+lum)

=153土8.59um

5上下限报警功能

无论在直接（DIR）工作方式，还是在组工作方式（GRO)，数据测量的州可

时候，您可以进入MUNE菜单设置上下限（具体请看菜单章节），一旦设

置成功，测量数据超出此限范围的时候，屏幕拱并良警提示：

H：读数超过zui高限额

L：读数超过zui低限额

6测量中的统计数据

厚度统计数据zui多可统计80个读数（GROI~GRO4：总共zui多可储存

4x80=320个读数）．此外，在DIR模式除了读数不存储外，其化湘GRO

模式相同。

NO：二开机以来进行统计的读数个数

AVG：平均值

Sdev：标准方差

MAX：zui大读数

MIN：zui小读数

6.1统计条例

平均值（X)

读数之和除以读数的个数X＝X/n

标准方差（Sdev.)

标准方差表征读数的分散度．读数越分散标准方差就越大，标准方差

是方差S2的平方根．

偏差S2=E(X-x）/(n-1）

标准偏差S=S2开平方

注意：当出现异常或不确定测量值时应马上删除，请查看M〔NU中的删

除功能。

6.2存储益处

在组测量模下，如果超出存储能力（80个数据存储），测量仍可继续进行，

但所有数据不计入统计．在单次测量方式下，如果存储器已满，LcO显

示屏上会显示”「ULL”字样。

直接测量模式下，如果存储器已满，数据会自动代替zui旧的数据，统

计值仍继续更新。

删除功能

删除zui后一个读数：如果你发现测试结果不正确，你可以通过此功能删

除zui后一个读数。同时，统计数据会自动更新。

删除所有数据二你可以删除当前工作模式下的所有统计数据。

**删除二这一功能会删除该组所有测量值、统计值、校准值、上下限

报警设置值。

以上功能，具体操作，请参看菜单章节．

传输数据至计算机

所有工作模式下的测量数据都可以通过USB口下载到电脑进行数据分

析，详情请查看配套软件相关指南。

注意：建议在仪器与电脑连接时不做州可测量。

故障排除

下面的故障符号可提示如何去识别和排除故障。

Errl：涡流探头有异常

Err2：磁感应探头有异常

Err3：两探头均有异常

Err4,5,6：保留未使用

Err7：二厚度测量结果错误

　　可以测量钢铁上的各种电镀（镀镍除外）、涂层、珐琅、塑料等覆盖层厚度，还可用于测量各种金属箔（如铜箔、铝箔、金箔等）和非金属薄膜（如纸张、塑料等）的厚度。本仪器可用于生产检验、验收检验及质量监督检验。符合国家标准。

　　磁性测厚仪分为两种，一种叫磁力测厚仪，一种叫磁感测厚仪。

　　磁力测厚仪是通过**磁铁的测头与导磁基材之间的磁吸力大小与处于两者之间的距离成**比例关系可测量覆层的厚度。

　　磁感应试验方法就是利用测头经过非铁磁覆面而流入铁基材的磁通大小来测定覆层的厚度，覆层俞厚，测通越小，然后经过处理换算得到涂层厚度的。

　　**磁铁(测头)与导磁钢材之间的吸力大小与处于这两者之间的距离成**比例关系，这个距离就是覆层的厚度。

　　利用磁性测厚仪试验方法制成测厚仪即为磁性测厚仪，只要覆层与基材的导磁率之差足够大，就可进行测量。鉴于大多数工业品采用结构钢和热轧冷轧钢板冲压成型，所以磁性测厚仪应用***广。

　　磁性测厚仪基本结构由磁钢，接力簧，标尺及自停机构组成。

　　磁钢与被测物吸合后，将测量簧在其后逐渐拉长，拉力逐渐增大。当拉力刚好大于吸力，磁钢脱离的一瞬间记录下拉力的大小即可获得覆层厚度。