粒度仪的使用注意事项 粒度仪使用方法
时间：2023-01-12 09:30:02 作者：河北航信仪器 点击：
粒度仪是用物理的方法测试固体颗粒的大小和分布的一种仪器。根据测试试验方法的不同分为沉降式粒度仪、沉降天平、激光粒度仪、光学颗粒计数器、电阻式颗粒计数器、颗粒图像分析仪等。 催化剂原料粉体、微球状催化荆以及组成的二次离子等，都是不同位径的多分散颗粒体系。测量单颗粒粒径是没有意义的，只有用统计的方法得到平均粒径和粒径(即拉度)分布才能表征这类颗粒体系的必要数据。 表示粒径分布的zui简单的方法是直方图，即测量颗粒体系的zui小至zui大较径范围。依次划分为若干逐渐增大的粒径分级，以粒径与其对应尺寸颗粒出现的频率作图，频率内容可表示为颗粒数目、质量、面积或体积。如果将各粒级再细分为更小的粒级，则直方图变为微分图。 粒度分析仪的注意事项 (1)分离颗粒的能力与粒度测试技术选择 依据对颗粒的分离能力。将测量颗粒的技术分为单颗粒计数、颗粒分级和整体平均结果三类。图像分析、显微镜是典型的单颗粒技术方法；分级方法包括筛分、沉降、离心和颗粒色谱等；整体平均的粒度分析方法，从收集到的所有测量颗粒产生信号的总和计算粒度分析，即测量结果由解析得到，是被测颗粒整体的平均，因此易于实现自动化和在线分析，但分辨率较低。用于催化剂工业生产的颗粒分析仪选择整体平均的方法，实验室研究多数情况希望获得单颗粒技术与外貌信息，分级方法的选择，应当结合测量颗粒性质与测量方式考虑。 (2)粒度分析仪的信息与技术指标要求 粒度分析仪的信息要求.是指给出结果的表达方式.可以是平均粒径、累加频率值、正态分布、分布宽度.也可用对数正态分布、非对称分布宽度、多峰分布的各峰相对量，以及累加频率的不同名义(如颗粒数、体积、面积等)表达。催化剂粒度分析zui有用的信息是平均粒径和粒径的颗粒数分布。 (3)测量基准 不同粒度分析仪技术的试验方法不同，原信息源和计量目标不同。例如光衍射法的原信息源是散射光强度，要求防止细颗粒中少数大颗粒对信息源的支配.电敏技术则按颗体积计数，因此各方法的基准不同，彼此不能简单归一同比。所以必须强调数据转化因基准不同会带来明显的误差。 (4)不同粒度分析仪技术的局限性 不同粒度分析技术都受其测量试验方法限制.如光衍射法不能测量小于光源自然线宽的颗粒；沉降法则既受制于大尺寸端乱流的影响，又受小尺寸端扩散(布朗运动)的限制。一些测量仪器也会因制作和操作规程带来**限制。有时测量技术还对测量样品的准备提出限制，PCS测量必须使颗粒悬浮，电镜制样要求优良分散。因此，了解测量技术的局限性和严格满足其限制要求.对获取正确测量结果非常必要。 催化剂与分子筛粒度的选择除与反应器的结构及单元设备的生产能力有关外.还取决于反应的宏观动力学。例如，管式反应器为降低反应床的阻力降，可采用粒度较大的催化剂。当反应速率受内扩散控制时，一般就选择粒度较小的催化剂，以提高内表面的利用率。
纳米激光粒度仪的性能特点
纳米激光粒度仪采用动态光散射试验方法，其测试方法具有不破坏、不干扰纳米颗粒体系原有状态的特点，从而保证了测试结果的真实性和有效性。 纳米激光粒度仪性能特点： 1、大动态范围高速光子相关器：采用**技术设计的光子相关器，以高、低速通道搭配的结构，有效解决了硬件资源与通道数量之间的矛盾，实现了1010的动态范围，并保证了相关函数基线的稳定性。 2、***优反演算法：采用***优拟合累积反演法和基于V-曲线判断准则的正则化算法反演颗粒粒径及其粒度分布，使测量结果的准确度和重复性均小于1%。 3、**的抗噪能力：采用小波消噪技术，解决了散射光强较低时，噪声过大对测量结果的影响。 4、稳定的光路系统：采用恒温532nm固态激光光源和单模保偏光纤技术搭建而成的光路系统，保证了光子相关光谱测量系统的稳定性和准确度。 5、高精度温控系统：基于半导体制冷装置，采用自适应PID控制算法，使温度控制精度达±0.1℃。 6、高灵敏度光子探测器：采用专业级高性能光电倍增管，对光子信号具有**的灵敏度和信噪比。光子计数器采用边沿触发模式，瞬间捕捉光子脉冲的变化。
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